标题 |
Coexistence of volatile and non-volatile resistive switching in Ni/SiO2/Pt memristor device controlled from different current compliances
不同电流柔度控制Ni/SiO2/Pt忆阻器中易失性和非易失性电阻开关的共存
相关领域
记忆电阻器
非易失性存储器
电阻随机存取存储器
材料科学
光电子学
切换时间
电阻式触摸屏
电极
化学
电气工程
工程类
物理化学
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Mehr Khalid Rahmani; Byung-Do Yang; HyungWon Kim; Hyojin Kim; Moon Hee Kang 出版日期:2021-07-30 |
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