Accelerated Degradation Testing and Failure Mechanism Analysis of Metallized Film Capacitors for AC Filtering

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标题	Accelerated Degradation Testing and Failure Mechanism Analysis of Metallized Film Capacitors for AC Filtering 交流滤波用金属化膜电容器加速退化测试及失效机理分析相关领域电容器降级（电信）材料科学失效机理薄膜电容器滤波电容器机制（生物学）电子工程可靠性工程法律工程学光电子学电气工程复合材料工程类电压物理量子力学
网址	https://doi.org/10.1109/tpel.2024.3360373
DOI	10.1109/tpel.2024.3360373 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Power Electronics 作者：Bo Yao; Xing Wei; Yichi Zhang; P.F. Correia; Wu Rui; et al 出版日期：2024-01-30
求助人	古德豹在 2024-11-26 00:30:47 发布自黑龙江，悬赏 10 积分
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