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Investigation of the optical properties of MoS2 thin films using spectroscopic ellipsometry
用椭偏光谱法研究二硫化钼薄膜的光学性质
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Chanyoung Yim; Maria O’Brien; Niall McEvoy; Sinéad Winters; Inam Mirza; et al 出版日期:2014-03-10 |
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