标题 |
Probing the charge state of threading dislocations in indium nitride through advanced atomic force microscopy
用先进的原子力显微镜探测氮化铟中穿线位错的电荷状态
相关领域
材料科学
氮化铟
位错
铟
带材弯曲
凝聚态物理
氮化物
晶体缺陷
晶界
电子
泄漏(经济)
光电子学
纳米技术
复合材料
微观结构
物理
图层(电子)
量子力学
经济
宏观经济学
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