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Inductance and penetration depth measurements of polycrystalline NbN Films for all-NbN single flux quantum circuits
用于全NbN单通量量子电路的多晶NbN薄膜电感和穿透深度测量
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期刊:Superconductor Science and Technology 作者:Yulong Zhong; Lu Zhang; Junjie Xie; Zengxu Zheng; Mingjun Lu; et al 出版日期:2024-11-18 |
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