Quantitative Analysis of Trace Elements in Silicon Carbide Device by Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry

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标题	Quantitative Analysis of Trace Elements in Silicon Carbide Device by Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry 激光烧蚀电感耦合等离子体质谱定量分析碳化硅器件中的微量元素相关领域化学分析化学（期刊）碳化硅电感耦合等离子体质谱法激光烧蚀质谱法校准校准曲线基质（化学分析）硅碳化物激光器检出限色谱法光学物理统计有机化学数学
网址	https://en.cnki.com.cn/Article_en/CJFDTotal-FXHX201401031.ht...
DOI	暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？
其它	期刊：CHINESE JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY (CHINESE VERSION) 作者：Hu Zhou 出版日期：2014-01-01
求助人	莫忆文在 2024-10-17 15:15:33 发布自福建，悬赏 10 积分
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