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![]() MoS2薄膜忆阻器的可靠性改进及有效开关层模型
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期刊:Advanced Functional Materials 作者:Yifu Huang; Yuqian Gu; Sivasakthya Mohan; Andrei Dolocan; Nicholas D. Ignacio; et al 出版日期:2023-04-13 |
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