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 First-principles identification of deep energy levels of sulfur impurities in silicon and their carrier capture cross sections 硅中硫杂质深能级及其载流子俘获截面的第一性原理识别
相关领域
硅
能量（信号处理）
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地理
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期刊：Journal of Physics D 作者：Lele Cai; Shan‐Shan Wang; Menglin Huang; Yu‐Ning Wu; Shiyou Chen 出版日期：2021-05-10 |
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