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Reducing Grain-Boundary Resistivity of Copper Nanowires by Doping
掺杂降低铜纳米线晶界电阻率
相关领域
晶界
电阻率和电导率
铜
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期刊:Physical Review Applied 作者:Mathieu César; Daniel Gall; Hong Guo 出版日期:2016-05-25 |
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