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 The semiconducting properties of passive films formed on AISI 316 L and AISI 321 stainless steels: A test of the point defect model (PDM) 在AISI 316 L和AISI 321不锈钢上形成的钝化膜的半导体性能：点缺陷模型(PDM)的测试
相关领域
材料科学
扩散
肖特基二极管
半导体
腐蚀
冶金
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物理
有机化学
二极管
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期刊：Corrosion Science 作者：Arash Fattah-alhosseini; F. Soltani; F. Shirsalimi; B. Ezadi; Navid Attarzadeh 出版日期：2011-10-01 |
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