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 (Invited) Deep Level Defects in AlN Studied By UV-Visible Spectroscopy 紫外-可见光谱研究AlN中的（邀请）深能级缺陷
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期刊：Meeting abstracts/Meeting abstracts (Electrochemical Society. CD-ROM) 作者：Rafael Dalmau; Samuel Kirby; J. Britt; R. Schlesser 出版日期：2022-10-09 |
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