标题 |
Imaging performance of EUV lithography optics configuration for sub-9nm resolution
亚9nm分辨率EUV光刻光学结构的成像性能
相关领域
极紫外光刻
光学
自适应光学
平版印刷术
光学成像
计算机科学
图像分辨率
极端紫外线
分辨率(逻辑)
计量学
物理
人工智能
激光器
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:Jens Timo Neumann; Matthias Rösch; Paul Gräupner; Sascha Migura; Bernhard Kneer; et al 出版日期:2015-03-16 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|