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 书籍（章节） Measuring elastic strains and orientation gradients by scanning electron microscopy: Conventional and emerging methods 用扫描电子显微镜测量弹性应变和取向梯度：传统和新兴方法
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期刊：Advances in imaging and electron physics 作者：Clément Ernould; Benoît Beausir; Jean-Jacques Fundenberger; Vincent Taupin; Emmanuel Bouzy 出版日期：2022-01-01 |
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