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 Deep level defect states in β-, α-, and ɛ-Ga2O3 crystals and films: Impact on device performance β-、α-和（或）Ga2O3晶体和薄膜中的深能级缺陷态对器件性能的影响
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期刊：Journal of vacuum science & technology 作者：A. Y. Polyakov; В. И. Николаев; E. B. Yakimov; F. Ren; S. J. Pearton; et al 出版日期：2022-02-28 |
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