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 Atomic force microscopy in mechanical measurements of single nanowires 原子力显微镜在单纳米线力学测量中的应用
相关领域
纳米线
纤锌矿晶体结构
材料科学
开尔文探针力显微镜
纳米技术
极限抗拉强度
纳米压痕
模数
原子力显微镜
复合材料
锌
冶金
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期刊：Ultramicroscopy 作者：Bartosz Pruchnik; Janusz D. Fidelus; Ewelina Gacka; Krystyna Mika; Leszek Zaraska; et al 出版日期：2024-05-07 |
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