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 Transport Losses at the TCO/a-Si:H/c-Si Heterojunction: Influence of Different Layers and Annealing TCO/a-Si：H/c-Si异质结的输运损耗：不同层数和退火的影响
相关领域
异质结
硅
退火（玻璃）
材料科学
光电子学
物理
热力学
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期刊：IEEE Journal of Photovoltaics 作者：Christoph Luderer; Christoph Messmer; Martin Hermle; Martin Bivour 出版日期：2020-04-20 |
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