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 Impact of Oxide Thickness, Emitter Sheet Resistance, and Polysilicon Doping Concentration on the Passivation Quality and Long-Term Stability of Topcon Solar Cells 氧化物厚度、发射层电阻和多晶硅掺杂浓度对Topcon太阳电池钝化质量和长期稳定性的影响
相关领域
钝化
共发射极
薄板电阻
材料科学
兴奋剂
氧化物
光电子学
期限（时间）
复合材料
冶金
图层（电子）
物理
量子力学
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期刊： 作者：Chukwuka Madumelu; Bowen Feng; Ji Genhua; Jie Bao; Sim Seunghwan; et al 出版日期：2024-01-01 |
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