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 Nanosecond laser damage of 532 nm thin film polarizers evaluated by different testing protocols 用不同测试方案评估532 nm薄膜偏振器的纳秒激光损伤
相关领域
偏振器
材料科学
激光器
光学
薄膜
光电子学
纳秒
纳米技术
双折射
物理
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| 其它 |
期刊：Optical Materials 作者：X. Y. Liu; Feng Cao; Weili Zhang; Humbet Nasibli; Yuanan Zhao; et al 出版日期：2024-03-01 |
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