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 Deep Insights into the Failure Mechanisms in Field-cycled Ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 Thin Film: TDDB Characterizations and First-Principles Calculations 场循环铁电Hf0.5Zr 0.5 O2薄膜失效机制的深入研究：TDDB表征和第一性原理计算
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无定形固体
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物理
光电子学
电介质
结晶学
化学
量子力学
复合材料
栅极电介质
电压
晶体管
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期刊： 作者：Wei Wei; Weiqiang Zhang; Fei Wang; Xiaolei Ma; Qianwen Wang; et al 出版日期：2020-12-12 |
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