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Analysis of trap state densities at HfO2/In0.53Ga0.47As interfaces
HfO2/In0.53Ga0.47As界面陷阱态密度分析
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Yoontae Hwang; Roman Engel‐Herbert; Parag Banerjee; Susanne Stemmer 出版日期:2010-03-08 |
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