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Trap densities in amorphous-InGaZnO4 thin-film transistors
非晶InGaZnO4薄膜晶体管的陷阱密度
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Mutsumi Kimura; Takashi Nakanishi; Kenji Nomura; Toshio Kamiya; Hideo Hosono 出版日期:2008-03-31 |
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