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Prediction of polishing pressure distribution in CMP process with airbag type wafer carrier
气囊式晶圆载体CMP工艺中抛光压力分布的预测
相关领域
薄脆饼
抛光
化学机械平面化
材料科学
半导体器件制造
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期刊:CIRP Annals 作者:Norikazu Suzuki; Yôhei Hashimoto; Hozumi Yasuda; Satoru Yamaki; Yoshihiro Mochizuki 出版日期:2017-01-01 |
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