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 Annealing-induced characterization of sputtered V2O5 thin films and Ag/V2O5/p-Si heterojunctions 溅射V2O5薄膜和Ag/V2O5/p-Si异质结的退火诱导表征
相关领域
薄膜
材料科学
退火（玻璃）
微晶
扫描电子显微镜
带隙
异质结
溅射
硅
分析化学（期刊）
光电子学
纳米技术
化学
复合材料
色谱法
冶金
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期刊：Optical Materials 作者：B. Aljawrneh; Yusuf Selim Ocak; Borhan Albiss 出版日期：2023-12-03 |
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