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Multi-resolution analysis enables fidelity-ensured deconvolution for fluorescence microscopy
多分辨率分析为荧光显微镜实现保真度保证的去卷积
相关领域
反褶积
显微镜
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荧光显微镜
荧光
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期刊:eLight 作者:Yiwei Hou; Wenyi Wang; Yunzhe Fu; Xichuan Ge; Meiqi Li; et al 出版日期:2024-08-06 |
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