标题 |
Identification and quantification of FOUP molecular contaminants inducing defects in integrated circuits manufacturing
集成电路制造中引起缺陷的FOUP分子污染物的识别和定量
相关领域
污染
薄脆饼
材料科学
干法蚀刻
剥离(纤维)
环境化学
半导体器件制造
蚀刻(微加工)
纳米技术
化学
复合材料
生态学
生物
图层(电子)
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DOI | |
其它 |
期刊:Microelectronic Engineering 作者:Thi Quynh Nguyen; Hervé Fontaine; Yannick Borde; Véronique Jacob 出版日期:2012-05-17 |
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