Measurement of the thickness and refractive index of a thin film by analyzing reflected interference fringes

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标题	Measurement of the thickness and refractive index of a thin film by analyzing reflected interference fringes 通过分析反射干涉条纹测量薄膜的厚度和折射率相关领域折射率光学干扰（通信）材料科学入射角（光学）薄膜波长 X射线光学电介质菲涅耳方程航程（航空）干涉显微镜干涉测量光电子学物理电信计算机科学频道（广播） X射线复合材料纳米技术
网址	https://doi.org/10.1364/ao.502870
DOI	10.1364/ao.502870 doi
其它	期刊：Applied Optics 作者：Deok Woo Kim; Minjae Kwon; Soobong Park; Byoung Joo Kim; Myoungsik Cha 出版日期：2023-09-26
求助人	跳跃的聪展在 2024-10-27 20:43:21 发布自黑龙江，悬赏 10 积分
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