标题 |
Semantic Segmentation-Based Wafer Map Mixed-Type Defect Pattern Recognition
基于语义分割的晶圆图混合型缺陷模式识别
相关领域
薄脆饼
分割
人工智能
模式识别(心理学)
计算机科学
像素
集合(抽象数据类型)
过程(计算)
计算机视觉
材料科学
光电子学
程序设计语言
操作系统
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其它 |
期刊:IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 作者:Jinda Yan; Yi Sheng; Minghao Piao 出版日期:2023-05-11 |
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