ASTM F1260M-96(2003) Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)

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标题	[高分] ASTM F1260M-96(2003) Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009) ASTM F1260M-96(2003)估计集成电路金属化的电迁移中值失效时间和σ的标准试验方法[公制]（2009年撤回）
网址	https://www.astm.org/f1260m-96r03.html
DOI	暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？
求助人	ho 在 2025-02-23 22:19:23 发布自广东，悬赏 50 积分
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