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 Comparison of extended x-ray absorption fine structure and Scherrer analysis of x-ray diffraction as methods for determining mean sizes of polydisperse nanoparticles 扩展x射线吸收精细结构和x射线衍射谢勒分析作为测定多分散纳米粒子平均尺寸的方法的比较
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期刊：Applied Physics Letters 作者：S. Calvin; Shunqin Luo; C. Caragianis-Broadbridge; J. K. McGuinness; Everett B. Anderson; et al 出版日期：2005-11-23 |
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