标题 |
Electrical and thermal properties of the metastable defect in boron-doped Czochralski silicon (CZ-SI)
掺硼直拉硅亚稳态缺陷的电学和热学性质
相关领域
亚稳态
材料科学
兴奋剂
硅
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分析化学(期刊)
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活化能
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其它 |
期刊: 作者:Stefan Rein; T Rehrl; Wilhelm Warta; Stefan W. Glunz; G. Willeke 出版日期:2002-07-01 |
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