标题 |
Effects of sol aging on resistive switching behaviors of HfOx resistive memories
溶胶时效对HfOx电阻存储器电阻开关行为的影响
相关领域
材料科学
电阻随机存取存储器
热传导
欧姆接触
光电子学
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期刊:Physica B: Condensed Matter 作者:Chih-Chieh Hsu; Jhen-Kai Sun; Che-Chang Tsao; Yuting Chen 出版日期:2017-03-01 |
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