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Highly Reliable Lateral Migration-based TFT-type Neuron Device for Spiking Neural Networks 用于脉冲神经网络的基于横向迁移的高可靠TFT型神经元器件
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Minkyu Park; Joon Hwang; Jong‐Ho Bae; Jae‐Joon Kim; Jong‐Ho Lee 出版日期:2024-01-01 |
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