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 Definitive Molecular Level Characterization of Defects in UiO‐66 Crystals UiO-66晶体缺陷的确定分子水平表征
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期刊：Angewandte Chemie 作者：Christopher A. Trickett; Kevin J. Gagnon; Seungkyu Lee; Felipe Gándara; Hans‐Beat Bürgi; et al 出版日期：2015-08-07 |
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