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Impact of Dielectrics in SOI FinFET for Lower Power Consumption in Punch-through Current-based Local Thermal Annealing
SOI FinFET中电介质对基于穿通电流的局部热退火降低功耗的影响
相关领域
退火(玻璃)
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期刊:JSTS Journal of Semiconductor Technology and Science 作者:Dong-Woo Cha; Jun-Young Park 出版日期:2021-06-30 |
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