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Deposition temperature dependence of material and Si surface passivation properties of O3-based atomic layer deposited Al2O3-based films and stacks
O_3基原子层沉积Al_2O_3基薄膜和叠层的材料温度依赖性及Si表面钝化性能
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期刊:Journal of vacuum science & technology. A. Vacuum, surfaces, and films 作者:S. Bordihn; Verena Mertens; Jörg Müller; W.M.M. Kessels 出版日期:2013-12-26 |
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