标题 |
In situ X-ray imaging and numerical modeling of damage accumulation in C/SiC composites at temperatures up to 1200 ℃
C/SiC复合材料1200℃损伤累积的原位X射线成像及数值模拟
相关领域
材料科学
原位
复合材料
气象学
物理
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DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Materials Science and Technology/Journal of materials science & technology 作者:Weijian Qian; W Zhang; Shengchuan Wu; Yuxia Hu; Xiangyu Zhang; et al 出版日期:2024-03-01 |
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