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 Thermal diffusion and epitaxial growth of Ag in Ag/SiO2/Si probed by XRD, depth-resolved XPS, and slow positron beam 用XRD、深度分辨XPS和慢电子束探测Ag/SiO2/Si中Ag的热扩散和外延生长
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期刊：Applied surface science 作者：J.D. Liu; Z.W. Liu; Zhiquan Chen; Hongjun Zhang; B.J. Ye 出版日期：2019-12-01 |
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