标题 |
Defect behavior during growth of heavily phosphorus doped Czochralski silicon crystals (II): Theoretical study
重磷掺杂直拉硅晶体生长过程中的缺陷行为(Ⅱ):理论研究
相关领域
硅
兴奋剂
材料科学
直拉法
磷
凝聚态物理
结晶学
光电子学
化学
冶金
物理
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Applied Physics 作者:Koji Sueoka; Y. Narushima; Kazuhisa Torigoe; Nobuhiro Nonaka; K. Koga; et al 出版日期:2024-08-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|