标题 |
A Wafer-Scale Material Removal Rate Model for Chemical Mechanical Planarization
化学机械平面化的圆片级材料去除率模型
相关领域
材料科学
化学机械平面化
磨损(机械)
转速
薄脆饼
模数
复合材料
抛光
过程(计算)
工作(物理)
摩擦学
纳米技术
机械工程
计算机科学
操作系统
工程类
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其它 |
期刊:ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者:Xu Qinzhi; Chen Lan; Liu Jianyun; Cao He 出版日期:2019-12-17 |
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