标题 |
X-Ray metrology of nanowire/ nanosheet FETs for advanced technology nodes
先进技术节点的纳米线/纳米片场效应晶体管的X射线计量
相关领域
纳米线
蚀刻(微加工)
材料科学
临界尺寸
薄脆饼
光电子学
场效应晶体管
计量学
散射
堆积
晶体管
纳米技术
光学
电压
物理
图层(电子)
量子力学
核磁共振
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Madhulika Korde; Joseph Kline; Daniel F. Sunday; Nick Keller; Subhadeep Kal; et al 出版日期:2020-03-20 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
科研通AI2.0 机器人 未找到该文献,机器人已退出,请等待人工下载
15:14:23 未找到该文献,机器人已退出,请等待人工下载15:14:21 科研通AI机器人(中国 香港)收到请求,开始寻找文献15:14:21 已向机器人发送请求
BroRooney_ 求助人 Lv31 发起了本次求助