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Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy
像差校正扫描透射电子显微镜研究进展
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期刊:Microscopy 作者:Niklas Dellby; Ondrej L. Krivanek; Peter D. Nellist; Philip E. Batson; Andrew R. Lupini 出版日期:2001-05-01 |
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