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 Auger electron spectroscopy and UV–Vis spectroscopy in combination with multivariate curve resolution analysis to determine the Cu2O/CuO ratios in oxide layers on technical copper surfaces 俄歇电子能谱和紫外-可见光谱结合多元曲线分辨率分析测定工业铜表面氧化层中Cu2O/CuO的比值
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期刊：Applied Surface Science 作者：Jan Stiedl; Simon Green; Thomas Chassé; Karsten Rebner 出版日期：2019-05-07 |
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