Impact of Hierarchical Dopant‐Induced Microstructure on Thermoelectric Properties of p‐Type Si‐Ge Alloys Revealed by Comprehensive Multi‐Scale Characterization

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标题	Impact of Hierarchical Dopant‐Induced Microstructure on Thermoelectric Properties of p‐Type Si‐Ge Alloys Revealed by Comprehensive Multi‐Scale Characterization 多尺度综合表征揭示分级掺杂诱导微观结构对p型Si-Ge合金热电性能的影响相关领域材料科学掺杂剂表征（材料科学）微观结构比例（比率）热电效应热电材料纳米技术兴奋剂冶金工程物理光电子学复合材料热导率热力学物理量子力学工程类
网址	https://doi.org/10.1002/adfm.202403785
DOI	10.1002/adfm.202403785 doi
其它	期刊：Advanced Functional Materials 作者：Kyuseon Jang; Won‐Seok Ko; Ji‐Hee Son; Jeongin Jang; Bongseo Kim; et al 出版日期：2024-04-25
求助人	晚心在 2024-10-15 19:22:20 发布自黑龙江，悬赏 10 积分
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