| 标题 |
 Experimental identification of topography-based artifact phenomenon for micro-/nanoscale thermal characterization of polymeric materials in scanning thermal microscopy 扫描热显微镜中基于形貌的聚合物材料微/纳米热表征伪影现象的实验识别
相关领域
扫描热显微术
工件（错误）
表征（材料科学）
热的
材料科学
显微镜
鉴定（生物学）
样品（材料）
生物系统
纳米尺度
纳米技术
光学
计算机科学
化学
人工智能
物理
植物
色谱法
气象学
生物
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：AIP Advances 作者：Lan Dong; Yifan Li 出版日期：2022-04-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
不配.
爱静静
Singularity
kento
zyfqpc
shinysparrow
寻道图强
元谷雪
浅尝离白
HEIKU
Hayat
云瑾
一一
Henry
琉璃苣
AireenBeryl531
paparazzi221
老肖
rosalieshi
curtisness
皖公网安备34019202002308
