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 A new look at an explanation of band gap of PECVD grown a-Si:H thin films using absorption spectra, spectroscopic ellipsometry, Raman, and FTIR spectrosopy 用吸收光谱、椭圆偏振光谱、拉曼光谱和FTIR光谱解释PECVD生长的a-Si：H薄膜的带隙
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椭圆偏振法
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期刊：Optical Materials 作者：Chandra Bhal Singh; Sekhar Bhattacharya; Soni Prayogi; Uday Singh Patel; P. Balaji Bhargav; et al 出版日期：2024-07-14 |
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