Stacking fault-induced strengthening mechanism in thermoelectric semiconductor Bi2Te3

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标题	Stacking fault-induced strengthening mechanism in thermoelectric semiconductor Bi2Te3 热电半导体Bi2Te3的层错强化机制
网址	https://doi.org/10.1016/j.matt.2023.07.017
DOI	10.1016/j.matt.2023.07.017 doi
其它	期刊：Matter 作者：Xiege Huang; Xiaobin Feng; Qi An; Ben Huang; Xiaolian Zhang; et al 出版日期：2023
求助人	xk 在 2023-08-10 22:15:39 发布，悬赏 10 积分
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