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 Wafer-scale Patterning of High-resolution Quantum Dot Films with a Thickness over 10 µm for Improved Color Conversion 厚度超过10 μ m的高分辨率量子点薄膜的晶片尺度图案化改善颜色转换
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期刊：Nanoscale 作者：Shenghan Zou; Yuzhi Li; Zheng Gong 出版日期：2023-01-01 |
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