标题 |
Standardizing Spatial Reconstruction Parameters for the Atom Probe Analysis of Common Minerals
常用矿物原子探针分析空间重构参数的标准化
相关领域
原子探针
纳米尺度
材料科学
半径
表征(材料科学)
覆盖
Atom(片上系统)
透射电子显微镜
计算机科学
光学
纳米技术
物理
计算机安全
嵌入式系统
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期刊:Microscopy and Microanalysis 作者:Denis Fougerouse; David W. Saxey; William D.A. Rickard; Steven M. Reddy; Rick Verberne 出版日期:2022-08-01 |
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