标题 |
[高分] A Methodology for Robust Multislice Ptychography
一种稳健的多切片重叠成像方法
相关领域
摄影术
过采样
多层
计算机科学
放大倍数
表征(材料科学)
光学
人工智能
物理
核磁共振
衍射
计算机网络
带宽(计算)
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DOI | |
其它 |
期刊:Microscopy and Microanalysis 作者:Colin Gilgenbach; Xi Chen; James M. LeBeau 出版日期:2024-06-15 |
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