标题 |
Investigation on time-dependent behavior of resistivity in high-resistivity silicon wafers
高电阻率硅片电阻率随时间变化特性的研究
相关领域
电阻率和电导率
薄脆饼
材料科学
硅
绝缘体上的硅
光电子学
电气工程
工程类
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DOI | |
其它 |
期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Minghao Li; Songsong Chen; Yun Liu; Tao Wei; Zhan Li; et al 出版日期:2022-11-01 |
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